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為力學(xué)實驗室儀器而生
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語言
為力學(xué)實驗室儀器而生
電子散斑干涉術(shù)是繼全息干涉術(shù)之后發(fā)展起來的一種實驗力學(xué)新方法。它舍棄了傳統(tǒng)的拍攝沖印照片復(fù)雜的濕處理過程，而直接依靠光學(xué)成像系統(tǒng)和計算機圖像采集處理系統(tǒng)獲得干涉條紋。這種方法在工程上已得到了較廣泛的運用。用于解決工程中的強度和剛度問題，并可用于殘余應(yīng)力測量。
一維面內(nèi)位移相移電子散斑干涉儀能實時觀察代表面內(nèi)位移的干涉條紋，也可通過相移技術(shù)獲得被測表面的全場位移分布，可滿足實驗室科研和教學(xué)的需要。配以穩(wěn)定的懸臂梁加載實驗裝置，使得整個系統(tǒng)穩(wěn)定可靠，易于調(diào)節(jié)，能獲得很好的教學(xué)效果。
主要技術(shù)指標(biāo)∶
1.光源∶半導(dǎo)體激光器（綠光），輸出功率20mw，波長532nm
2.相機∶1280×1024 USB2.0數(shù)字?jǐn)z像頭
3.鏡頭∶25mm定焦鏡頭（標(biāo)配），可選配其它C接口鏡頭
4.工作距離∶400~800mm
5.條紋分辨率∶1/20級條紋（13.3nm）
6.最大范圍∶200mm×200mm
主要配置∶
主機∶1套
532nm半導(dǎo)體泵浦固體激光器（內(nèi)置）：1個
C接口鏡頭 f25mm定焦鏡頭∶1個
攝像頭（內(nèi)置）∶1只
1200mm X800mm 光學(xué)平臺∶1套
懸臂梁加載裝置∶1套
圖像采集及處理軟件∶1套
原理示意
應(yīng)用范圍
可用于面內(nèi)二維位移場的高精度測量：
數(shù)字散斑位移檢測技術(shù)已被廣泛地應(yīng)用于工業(yè)檢測中,用以提高工業(yè)檢測的質(zhì)量和增強對復(fù)雜材料性能的認(rèn)識: 可用來檢測幾厘米甚至幾毫米樣品的面內(nèi);檢測復(fù)合生物材料的特性;檢測高溫物體的熱變形;觀察透明液體中的物理現(xiàn)象,如在水溶液或凝膠體中晶體形成過程時密度、濃縮梯度的變化等等。
教學(xué)：
用于材料力學(xué)和實驗力學(xué)課程的實驗教學(xué)。
